武汉光模块可靠性测试参考标准

现阶段对于快速温变试验箱有很多不同的试验标准，名称也相对较混乱，在可靠性试验交流中也会因为各自参考的标准不一样而产生分歧。下面就一起来了解下关于武汉光模块温度测试的参考标准吧。
 
光模块的温度变化测试根据温度变化率有不同的测试目的，所以按温度变化率可分为以下几种测试：温度循环、温度冲击、热冲击。 

 
温度变化有两种，一种是自然环境的温度变化，一种是人为引起的温度变化。一种是温度变化比较慢，另一种是温度变化率有多种情况，一般是指温度变化率比较快的情况。
因为光模块的温度变化测试根据温度变化率有不同的测试目的，所以按温度变化率可分为以下几种测试：温度循环、温度冲击、热冲击。
 
一、可靠性考试的目的
温度循环试验箱的目的是验证产品在高低温交替变化下的影响。
温度冲击试验箱的目的是验证产品受到周围大气温度突然变化时的物理或性能变化。
热冲击试验箱的目的是验证产品在突然经受恶裂温度变化时的抵抗力和冲击力。
这三个测试的区别点是温度变化率、“突然变化”和“剧烈变化”。
骤变定义为“一分钟内气温变化大于或等于10°”；
剧烈变化定义为“环境温度在10秒内完成两个峰值温度的转换”。
 
二、测试的目的
温度循环用于筛选产品的早期失效，也可用于释放产品装配中的应力。主要用于量产阶段。
温度冲击是一种用来激发产品潜在故障的工具，暴露产品的设计问题和工艺问题。主要用于研发阶段。
热冲击用于利用超快速温度变化进行机械完整性验证。主要用于研发阶段。
 
三、其他
这三个温度变化测试将在光模块的整个生命周期中使用。根据国外相关机构收集的数据分析，对电子产品具有良好筛选效果的单一应力是温度循环。在光模块的设计和生产中，一是批量产品的老化阶段，可以通过温度循环和高温开机两个测试对产品进行筛选。先用温度循环进行应力释放和工艺问题筛选，再用高温上电进行早期故障筛选；二是连接温度循环和充电，模拟产品在自然环境中的工作状态。在此测试之前，需要检查产品是否经过一定的预处理，需要对产品的工作状态进行监控，这可以暴露一些可靠性测试中无法暴露的问题；三是将温度循环和带电作为可靠性项目，发现产品问题。后两种情况的温度变化率普遍低于两种情况。
温度冲击试验的温度变化率较高，温度变化率范围跨度太大。一般在25C/min以下使用机械制冷。当温度变化率大于这个时，一般建议使用液氮辅助制冷。对于光模块的温度冲击可靠性测试，也是GR468描述的温度循环测试。测试的原始标准来源是环境温度需要在1分钟内转换。一般采用多室试验箱快速实现高低温环境转换。但是，产品的温度达到环境温度需要一定的时间，而这种可控的温度变化会导致产品在温度变化过程中出现局部热不平衡，从而导致互连失败。对于粘接或机械连接，两者都有很好的验证结果。
 
热冲击试验一般不使用空气作为温变介质。初期以水为变温介质时，试验须是密封产品。后续技术的发展和新的温变介质的出现，可以对常规产品进行。在本次测试中，本次测试中一般会考虑清洁步骤，以防止因介质温度变化而导致性能错误。此测试与多室温度冲击测试类似，但样品在不同环境下的转变时间更快，且由于温度变化介质一般为液体，样品的体温会在经过多次测试后迅速达到环境温度。快速浸入。温度转换时间非常快。因此，该试验已经脱离了气候和环境试验的范畴，一般作为一种机械完整性试验来验证产品的结构完整性。
现阶段有一个测试结合了以上三个测试的特点，就是HALT测试：产品通电，用液氮实现低温环境的快速实现（高温实现更简单） ，且温度变化率一般为60C/min，产品本体温度可快速达到环境温度，并结合振动测试，可快速验证产品设计、工艺及产品完整性。这个测试在前期也有提到。失效的概念是加速暴露弱点或材料问题，可以有针对性地加强。
 
快速温变试验箱还需要注意一个特点。这些实验本质上不是产品耐高温或耐低温的测试项目。它们都利用温度变化的特性来验证产品。因此，产品在恶虐温度条件下的停留时间一般不需要过长。产品整体需要达到环境温度才能保证温度变化的起始温度，一般为15分钟（具体可以根据实验过程监控来定义），而不是简单粗暴的规则，越长越好毕竟，温度变化测试的成本比简单的高温和低温测试要高。许多，高温或低温都可以使用这两个项目来实现。

以上就是“武汉光模块可靠性测试参考标准 ”这个问题的相关回答，假如有需要做光模块可靠性测试的，可以联系武汉金测检测技术工程师咨询；公司拥有一支高素质的科研队伍，技术力量雄厚，引进国内外先进的检测设备，具有完整、科学的质量管理体系，也是值得您长期信赖的合作伙伴！