电子产品做高低温试验的标准及要求

电子产品做高低试验的目的主要是为了考评电子产品在高温或者低温的恶劣环境下，经过一定的时间后还能否正常使用。
 
武汉金测低温试验是一般是运用恒温恒湿试验箱进行试验的。试验前先检查试验样品的状态，外观、功能、性能等是否正常，并拍照；然后，将样品放入恒温恒湿试验箱箱中，设置温度箱的高温、低温值及各自保持的时间、变温的时间、周期数。
 
比如高温70 °C下保持2小时，然后从70 °C半小时内降到低温-20 °C，保持2小时，再从-20 °C半小时内升温到70 °C。如此循环，试验20个循环。测完后，拿出样品，检查试验后样品的外观、功能、性能等。
如发现样品跟试验前相比无明显变化，或者变化在所定的标准范围之类，则表示试验样品的抗高低温循环性能符合要求，否则为不符合。
电子电器产品的高低温试验分为高低温存储试验和高低温运行试验。高低温存储是产品不上电，在非工作状态下进行试验。高低温运行是给产品供电，在产品工作状态下进行试验。
 
高温试验：
此试验中试件处于高温空气中，但不受到阳光直接照射。高温试验针对高温季节在室内或密闭空间中或接近发动机等热源处储藏或使用产品的情形。仅当太阳辐射试验不能检验高温效应时才进行这项试验。高温试验的目的是检验在高温环境中储藏或使用的性能。高温试验的目的是确定军民用设备在常温条件下储存和工作的适应性。
 
高温试验参考标准：
GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2，EIA-364-17
 
主要技术参数（恒温恒湿试验箱标箱）： 

内箱尺寸（D*W*H）：100*100*100cm
箱体内容积：1000L
温度范围：-70℃～150℃
湿度范围：百分之25～百分之95RH
升温速率：-70℃～150℃：3.5℃/min（30kg铝锭）； 
降温速率：+150℃～-70℃：1.5℃/min（30kg铝锭）；
较大电热负载：(60℃，百分之95RH)，2000W
 
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