高低温可靠性试验机构

高低温试验属于气候类环境可靠性试验中比较常见的检验项目之一，高低温试验首要模仿干热和干冷大气环境，如夏天的天热，冬季的天冷。高低温试验首要查核产品在作业状态下或贮存状态下产品的功用功用是否产生降低和改动，首要查核产品的高低温耐受才干。

试验内容：
低温工作、低温贮存、高温工作、高温贮存、低温启动、高温启动、高低温循环、温度冲击、高温寿命、高温老化等。
 
高低温试验是用来承认产品在温湿度气候环境条件下贮存、运送、运用的适应性。
高低温试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露继续时间。
 
高低温可靠性试验服务领域：
高低温试验箱用于工业产品高、低温的可靠性试验。对电子电工、轿车摩托、航飞系统、船只兵器、高等院校、科研单位等相关产品的零部件及资料在高、低温循环改动的情况下，查验其各项功用指标。
 
高低温试验方法：
预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。
初步检测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温试验箱。
 
样品断电时，试验样品应按标准要求放置在试验箱内，试验箱（室）内温度应降至-50℃，保持4小时；不要在样品通电状态下进行低温测试，这一步非常重要，因为芯片本身在通电状态下会产生20℃因此，在通电状态下，通常更容易通过低温试验，须先冻透，再通电试验。
 
在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱（室）内4h或者直到测试样品达到温度稳定，与低温测试相反，加热过程不断电，芯片内部温度保持高温，4小时后执行A、B测试步骤。
进行老化测试，观察是否存在数据对比错误。
高温和低温试验分别重复10次。
重复上述实验方法，以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小，时间可能略有误差。

恢复：试验样品从试验箱中取出后，应在正常试验大气条件下恢复，直至试验样品达到温度稳定。
实验室制度按照CNAS授权检测范围基础标准GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 A：低温》 和 GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 B：高温》标准进行高低温工作、高低温贮存、干冷干热、温度变化、高温老化、高温寿命、高低温耐受性试验技术服务，出具带有CNAS、CMA第三方检测报告。
 
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